GB/T 35006-2018 半导体集成电路电平转换器测试方法_标准下载

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GB/T 35006-2018 半导体集成电路电平转换器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

GB/T 35006-2018

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标准GB/T 35006-2018标准状态

发布于：2018-03-15
实施于：2018-08-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路电平转换器测试方法
标准号：GB/T 35006-2018
中国标准分类号：L56
发布日期：2018-03-15
国际标准分类号：31.200
实施日期：2018-08-01
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路电平转换器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了半导体集成电路电平转换器（以下称为器件）功能、静态参数和动态参数的测试方法。本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能、静态参数和动态参数的测试。

起草单位

深圳市国微电子有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、成都振芯科技股份有限公司、

起草人

宦承永、邬海忠、王小强、罗彬、陆坚、魏军、

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