当前位置:标准网 行业标准

SJ/T 11875-2022 电动汽车用半导体集成电路应力试验程序

SJ/T 11875-2022 电动汽车用半导体集成电路应力试验程序

SJ/T 11875-2022

行业标准-SJ 电子推荐性
收藏报错

标准SJ/T 11875-2022标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:电动汽车用半导体集成电路应力试验程序
  • 标准号:SJ/T 11875-2022
    中国标准分类号:L55
  • 发布日期:2022-10-20
    国际标准分类号:31.2
  • 实施日期:2023-01-01
    技术归口:工业和信息化部电子第四研究院
  • 代替标准:
    主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学SJ 电子

内容简介

行业标准《电动汽车用半导体集成电路应力试验程序》,主管部门为工业和信息化部。本文件描述了电动汽车用半导体集成电路(以下简称器件)的分级及最低应力试验程序(用于应力试验程序组成器件检验方案)。本文件用于指导制定电动汽毛思举螺秣奚晟鼋黠稔验玄盅的确定。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、工业和信息化部电子第四研究院、车载服务产业应用联盟

起草人

周圣泽、任艳、蔡志刚、李锟、张树琨、王之哲

相近标准

SJ/T 11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序
20213175-T-339 半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验
20213172-T-339 半导体器件 金属化空洞应力试验
GB/T 11498-2018 半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
20242786-T-339 汽车用集成电路应力测试要求
GB/T 13062-2018 半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
20233861-T-339 半导体集成电路封装术语
20141817-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速耐湿-无偏置强加速应力试验
20242751-T-339 半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓(GaN)晶体管可靠性试验方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。