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GB/T 43034.2-2024 集成电路脉冲抗扰度测量第2部分: 同步瞬态注入法

Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 2: Synchronous transient injection method

GB/T 43034.2-2024

国家标准推荐性

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标准GB/T 43034.2-2024标准状态

发布于：2024-10-26
实施于：2024-10-26
废止

标准详情

标准名称：集成电路脉冲抗扰度测量第2部分: 同步瞬态注入法
标准号：GB/T 43034.2-2024
中国标准分类号：L56
发布日期：2024-10-26
国际标准分类号：31.200
实施日期：2024-10-26
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《集成电路脉冲抗扰度测量第2部分: 同步瞬态注入法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件给出了评价集成电路（IC）对快速传导同步瞬态骚扰抗扰度试验方法的通用信息和定义。这些信息包括试验条件、试验设备、试验布置、试验程序和试验报告的内容要求。本文件的目的是描述通过建立相同的试验环境获得IC抗扰度的定量度量的通用条件，同时也描述了预期会影响试验结果的关键参数。与本文件的偏离需在试验报告中明确地注明。本文件给出的同步瞬态抗扰度测量方法是使用具有不同幅值、持续时间和极性的，上升时间快速的短脉冲以传导的方式耦合给IC。在本方法中，施加的脉冲需与IC的功能运行同步，目的是确保可控的和可复现的条件。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、安徽中认倍佳科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、南京容测检测技术有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、中国家用电器研究院、南京师范大学、深圳市北测标准技术服务有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、苏州泰思特电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、国家无线电监测中心检测中心、中国信息通信研究院、东莞职业技术学院、

起草人

付君、崔强、张海峰、张艳艳、梁吉明、胡小军、杨红波、董奇峰、褚瑞、康志能、方文啸、吴建飞、莫国延、李旸、邢立文、郑益民、熊宇飞、颜伟、魏海红、陈梅双、

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