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GB/T 42968.4-2024 集成电路电磁抗扰度测量第4部分：射频功率直接注入法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4: Direct RF power injection method

GB/T 42968.4-2024

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标准GB/T 42968.4-2024标准状态

发布于：2024-12-31
实施于：2024-12-31
废止

标准详情

标准名称：集成电路电磁抗扰度测量第4部分：射频功率直接注入法
标准号：GB/T 42968.4-2024
中国标准分类号：L56
发布日期：2024-12-31
国际标准分类号：31.200
实施日期：2024-12-31
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《集成电路电磁抗扰度测量第4部分：射频功率直接注入法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了在传导射频（RF)骚扰存在的情况下集成电路（IC）抗扰度的测量方法，例如，由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。本方法确保抗扰度测量的高度可重复性和相关性。本文件为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、江苏省质量和标准化研究院、苏州菲利波电磁技术有限公司、中国信息通信研究院、重庆邮电大学、东莞职业技术学院、南京容测检测技术有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、上海市计量测试技术研究院、安徽省计量科学研究院、深圳市铨兴科技有限公司、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、上海精密计量测试研究所、

起草人

张强、崔强、方文啸、吴建飞、付君、杨博、廉鹏飞、史锁兰、刘洋、鲍晶晶、沈学其、乔彦彬、刘小军、王少启、李金龙、崔培宾、黄旭彪、张红升、

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