GB/T 4937.42-2023 半导体器件机械和气候试验方法第42部分：温湿度贮存_标准下载

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GB/T 4937.42-2023 半导体器件机械和气候试验方法第42部分：温湿度贮存

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 42:Temperature and humidity storage

GB/T 4937.42-2023

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标准GB/T 4937.42-2023标准状态

发布于：2023-05-23
实施于：2023-12-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第42部分：温湿度贮存
标准号：GB/T 4937.42-2023
中国标准分类号：L40
发布日期：2023-05-23
国际标准分类号：31.080.01
实施日期：2023-12-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第42部分：温湿度贮存》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件描述了评价半导体器件耐高温高湿环境能力的试验方法。本文件适用于评价塑封半导体器件和其他类型封装半导体器件的芯片金属化互连耐腐蚀能力。也可作为由于湿气通过钝化层渗透而导致漏电的加速方法，以及多种试验前的预处理方法。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、安徽俊承科技有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、武汉中原电子集团有限公司、武汉格物芯科技有限公司、深圳基本半导体有限公司、

起草人

裴选、周勇、尹丽晶、汪之涵、崔从俊、何黎、张魁、和巍巍、

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