GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法_标准下载

当前位置：标准网国家标准

GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

GB/T 42838-2023

国家标准推荐性

收藏报错

标准GB/T 42838-2023标准状态

发布于：2023-08-06
实施于：2023-12-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路霍尔电路测试方法
标准号：GB/T 42838-2023
中国标准分类号：L56
发布日期：2023-08-06
国际标准分类号：31.200
实施日期：2023-12-01
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路霍尔电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所、

起草人

尹航、刘芳、张帆、刘德广、何万海、唐食明、

相近标准

SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
JB/T 5580-1991 半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法
20182269-T-339 半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法
SJ/T 11702-2018 半导体集成电路串行外设接口测试方法
SJ/T 10805-2018 半导体集成电路电压比较器测试方法
SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
GB/T 12750-2006 半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB/T 42970-2023 半导体集成电路视频编解码电路测试方法
SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载