GB/T 4937.14-2018 半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度（引线牢固性）_标准下载

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GB/T 4937.14-2018 半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度（引线牢固性）

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 14: Robustness of terminations（lead integrity）

GB/T 4937.14-2018

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标准GB/T 4937.14-2018标准状态

发布于：2018-09-17
实施于：2019-01-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度（引线牢固性）
标准号：GB/T 4937.14-2018
中国标准分类号：L40
发布日期：2018-09-17
国际标准分类号：31.080.01
实施日期：2019-01-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度（引线牢固性）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T4937的本部分规定了几种不同的试验方法，用来测定引线／封装界面和引线的牢固性。当电路板装配错误造成引线弯曲，为了重新装配对引线再成型加工时，进行此项试验。对于气密封装器件，建议在本试验之后按IEC60749-8进行密封试验，以确定对引出端施加的应力是否对密封也造成了不良影响。本部分的每一个试验条件，都是破坏性的，仅适用于鉴定试验。本部分适用于所有需要用户进行引线成型处理的通孔式安装器件和表面安装器件。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、无锡必创传感科技有限公司、北京大学微电子研究院、

起草人

裴选、高金环、柳华光、崔波、周刚、彭浩、宋玉玺、张威、陈得民、

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