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T/ZSA 231-2024 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

T/ZSA 231-2024 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

T/ZSA 231-2024

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  • 标准名称：氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
  • 标准号：T/ZSA 231-2024
    中国标准分类号：H21/C389
  • 发布日期：2024-05-15
    国际标准分类号：29.045
  • 实施日期：2024-05-16
    团体名称：中关村标准化协会
  • 标准分类：电气工程C 制造业

内容简介

本文件描述了利用双晶X射线衍射仪测试氧化镓单晶片摇摆曲线及其半高宽的方法
本文件适用于熔体法、液相法及气相法生长的β相氧化镓单晶片，对前述单晶片进行化学或机械抛光后的样品同样适用于此方法
本文件描述了利用双晶X射线衍射仪测试氧化镓单晶片摇摆曲线及其半高宽的方法。本文件适用于熔体法、液相法及气相法生长的β相氧化镓单晶片，对前述单晶片进行化学或机械抛光后的样品同样适用于此方法。

起草单位

中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、北京镓创科技有限公司、北京聚睿众邦科技有限公司、北京邮电大学、北京聚仪共享科技有限公司。

起草人

李培刚、宫学源、闫方亮、李龙、杨丽霞、王进进、朱勋、郑红军、刘祎晨、刘紫洋。

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