GB/T 4937.11-2018 半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法_标准下载

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GB/T 4937.11-2018 半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method

GB/T 4937.11-2018

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标准GB/T 4937.11-2018标准状态

发布于：2018-09-17
实施于：2019-01-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法
标准号：GB/T 4937.11-2018
中国标准分类号：L40
发布日期：2018-09-17
国际标准分类号：31.080.01
实施日期：2019-01-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化双液槽法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气一空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、

起草人

张天福、高金环、于学东、崔波、张艳杰、彭浩、李树杰、裴选、迟雷、

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