GB/T 35002-2018 微波电路 频率源测试方法
GB/T 35002-2018
国家标准推荐性
收藏
报错
标准GB/T 35002-2018标准状态
- 发布于:2018-03-15
- 实施于:2018-08-01
- 废止
内容简介
国家标准《微波电路 频率源测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了微波电路频率源的电参数测试方法。本标准适用于微波电路频率源,包括直接模拟合成源、直接数字合成源、间接模拟合成源和间接数字合成源,其他产品可参照使用。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、
起草人
郭文胜、 吴爱华、 张学仁、 韩东、 彭浩、张加程、廖雪阳、罗彬、
相近标准
20192058-T-339 微波混合集成电路 合成频率源
20182280-T-339 微波电路 限幅器测试方法
GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法
GB/T 35001-2018 微波电路 噪声源测试方法
GB/T 42744-2023 微波电路 电调衰减器测试方法
GB/T 35011-2018 微波电路 压控振荡器测试方法
20214379-T-469 宇航用微波集成电路芯片通用规范
GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
SJ/T 2406-2018 微波电路型号命名方法
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
- 2 GB/T 35004-2018 数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
- 3 GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法
- 4 GB/T 35010.3-2018 半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南
- 5 GB/T 35010.4-2018 半导体芯片产品 第4部分:芯片使用者和供应商要
- 6 GB/T 35010.5-2018 半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求
- 7 GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
- 8 GB/T 35010.7-2018 半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式
- 9 GB/T 35010.8-2018 半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式
- 10 GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
- 11 GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
- 12 GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范